Cтандарт ASTM F28-91 определяет порядок и условия определения обьемного времени жизни носителей в германии и в кремнии. Эта стандарт основан на измерении спада импульсного тока вызванного импульсной засветкой образца.
Другие стандарты измерения времени жизни:
1) DIN 50440/1 “Измерение времени жизни в монокристаллах кремния на основе спада фототока”
2) IEEE Standart 255 “Измерение времени жизни неосновных носителей в кремнии и германии на основе спада фототока ”.
Стандарт ASTM F28-91 определяет три типа образцов, применяемых при измерениях. Типы образцов приведены в таблице 2.1.
Таблица 2.1. Размеры образцов, применяемых при измерениях.
Тип образца |
Длина, мм |
Ширина, мм |
Высота, мм |
A |
15,0 |
2,5 |
2,5 |
B |
25,0 |
5,0 |
5,0 |
C |
25,0 |
10,0 |
10,0 |
Таблица 2.2 Максимально допустимые обьемные времена жизни неосновных носителей для разных полупроводников и образцов , mсек.
Материал |
Тип А |
Тип B |
Тип C |
p-тип германий |
32 |
125 |
460 |
n-тип германий |
64 |
250 |
950 |
n-тип кремний |
90 |
350 |
1300 |
р-тип кремний |
240 |
1000 |
3800 |
Таблица 2.3. Темп поверхностной рекомбинации для разных полупроводников и типов образцов, Rs , mS-1.
Материал |
Тип А |
Тип B |
Тип C |
p-тип германий |
0,03230 |
0.00813 |
0.00215 |
n-тип германий |
0.01575 |
0.00396 |
0,00105 |
n-тип кремний |
0,01120 |
0,00282 |
0,00075 |
р-тип кремний |
0,00420 |
0,00105 |
0,00028 |